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自動車における電着塗装解析
近年製造分野では、解析技術の進化により高価なハードウェアによる試験頻度を低減してきています。 解析ツールは製品開発プロセスの上流工程である設計段階で使用され、品質および製造コストの要求を満たすように、製品とプロセスの両者を最適化支援するツールとして適用されてきています。 STAR-CCM+v8.02では、CADデータからメッシングそしてペイント層での浸漬、引き上げを含めた電着塗装まで単一環境で解析を行うことができます。 解析結果は、はたしてキャビティー内の塗膜が十分なのか、あるいはコロージョンのリスクがないのか、気泡が混入していないか、など電着塗装における欠陥予測に使うことができます。
One thing most engineers have in common is a fascination for elliptic gears. And with the impending release of STAR-CCM+ v8.04, it will be easier than ever to set the wheels in motion. Indeed, one of the most exciting features of STAR-CCM+ v8.04 is an enhanced overset mesh technology which allows for multiple overlapping overset zones. Overset meshes, also known as “Chimera” or overlapping grids, may be used to simulate the relative motion of one or more bodies, including arbitrary or tangential motions of objects in close proximity. And whereas it has been possible to overlap overset grids with a background mesh since the release of STAR-CCM+ v7.02, it will now also be possible to overlap overset grids with each other.
Presented at the STAR European Conference 2010
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